一. 涂层测厚影响因素的有关说明:
涂层测厚 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响量测的读数，因此，要保持压力恒定。
涂层测厚 测头的取向
测头的放置方式对量测有影响。在量测中，应当使测头与试样表层保持垂直。 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪表进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
涂层测厚 基体金属电性质
基体金属的电导率对量测有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪表进行校准。
基体金属厚度
每一种仪表都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，量测就不受基体金属厚度的影响。本仪表的临界厚度值见附表1。
涂层测厚 边缘效应
本仪表对试件表层形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行量测是不可靠的。
曲率
试件的曲率对量测有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表层上量测是不可靠的。
涂层测厚 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
表层粗糙度
基体金属和覆盖层的表层粗糙程度对量测有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表层会引起系统误差和偶然误差，每次量测时，在不同位置上应增加量测的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪表的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪表的零点。
涂层测厚 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
附着物质
本仪表对那些妨碍测头与覆盖层表层紧密接触的附着物质敏感，因此，必须**附着物质，以保证仪表测头和被测试件表层直接接触。
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